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광학 및 전기적 특성 분석 장비

II. 광학 및 전기적 특성 분석 장비 Optical / Chemical Analysis Equipment

제품 정보
Microspectrophotometer (MSP)
20/30 PV (Craic Technologies)	장비 등록 번호 NFEC-2021-08-272512
Micro 또는 Nano Size 시료의 파장에 따른 광학적 특성 분석 · UV ~ NIR 영역의 국소 부위에 대한 흡광도, 투과도, 반사율, Raman Spectrum 측정 가능 · 3D Image mapping, 색차 분석, 두께 분석
Features · Spectrum Wavelength Range : 200 ~ 2100nm · Sampling Area : 1 ~ 10,000μm²	성능향상 (2022년 예정) · 온도 변화 Stage 장착 예정 (-195 ~ 350°C)

제품 정보
LabRAM HR UV-Vis-NIR Raman Microscopy
LabRAM HR (HORIBA)	장비 등록 번호 NFEC-2021-08-272552
Raman 및 PL을 통한 Chemical Composition, 응력/변형률, Band Gap 분석 · Raman Range : 100 ~ 3500cm^-1 · Wavelength Range : 350 ~ 700nm 성능 향상 (2022년 예정) · Dual LASER 장착 : 325nm/442nm (25mW/100mW)

제품 정보
Confocal Raman Spectroscopy
Xperam-S500 (Nanobase)	장비 등록 번호 NFEC-2021-08-272561
Raman 및 PL을 통한 Chemical Composition, 응력/변형률, Band Gap 분석 · Raman Range : 100 ~ 3500cm^-1 · Wavelength Range : 350 ~ 700nm 성능 향상 (2022년 예정) · Dual LASER 장착 : 325nm/442nm (25mW/100mW)

제품 정보
Photoluminescence Mapper (PL Mapper)
PLATOM (ETAMAX)	장비 등록 번호 NFEC-2021-08-272553
Wafer의 파장 특성 및 두께 분석 · Red ~ Blue LED Wafer의 파장, 두께, Bowing Maping 측정 (375 ~ 800nm) · Sample : Wafer 2” ~ 6” 분석 가능
Features · Dominant Wavelength, Peak Wavelength · FWHM, PL Intensity, Thickness, Wafer Bowing 측정 가능	성능향상 (2022년 예정) · RED Wafer 측정 가능 > 532nm LASER 설치

제품 정보
UV-visible Spectrometer
Mega-V600 (Scinco)	장비 등록 번호 NFEC-2021-08-272554
시료의 파장에 따른 흡수율, 또는 반사율 분석 · 325 ~ 1100nm의 흡수 Spectrum 측정 가능 · Transmission, Absorbance, Energy, Concentration 을 측정	Features · Wavelength Accuracy : ±2nm · Wavelength Reproducibility : ≤0.4nm · Spectral Bandwidth : 2nm · Light Source : Tungsten Lamp

제품 정보
EL Probe Station
MST 5500B (MS Tech)	장비 등록 번호 NFEC-2021-08-272514
시료의 전기적인 특성 분석에 활용 · I-V Curve, I-Time Curve, C-V Curve	성능향상 (2022년 예정) · L-I-V Curve 측정 가능 예정 · 발광 Image 측정 가능 예정 > Sourcemter, Spectrometer 구매 예정
Features Probe Station 6” ambient coaxial chuck_Low Leakage current (<50fA) Microscope CCD Zoom Camera : 300x, High Microscope : ~1000x 기타 Hot Chuck (Temp : RT ~ 200 degree)

제품 정보
Arbitary Function Generator
AFG1022 (Tektronix)	장비 등록 번호 NFEC-2021-08-272558
파형을 재생하거나, 파형들을 임의의 신호로 변환시켜 발생시키는 장비 · 고정밀, 고성능을 갖는 장비의 정밀도 측정 및 안정성 검증 · 색균일도, 색 분포의 분석 및 이미지 품질 분석에 활용 · 고해상도 평판의 픽셀 색상 및 분석이 가능함 (Luminance : ±2%, Chromaticity : ±0.002) · 380 ~ 780nm까지의 401개 이미지의 생성 가능	Features · Wavelength Accuracy : ±2nm · Wavelength Reproducibility : ≤0.4nm · Spectral Bandwidth : 2nm · Light Source : Tungsten Lamp

제품 정보
Pulse Function Arbitrary Generator
81150A (Keysight-Technologies)	장비 등록 번호 NFEC-2021-08-272559
다양한 신호 생성, 변조, 왜곡 기능을 통해 디바이스에 스트레스를 가하여 전자회로를 테스트 하는 장비에 활용 Features Frequency Range Pulse : 1μHz ~ 120MHz / Sine : 1μHz ~ 240MHz Waveforms Noise, adjustable crest factor, sine, pulse, square, ramp, arbitrary waveform Channels 1 or 2, differential outputs Output amplitude 50 Ω into 50 Ω – High voltage – 100 mVpp to 10 Vpp – High bandwidth – 50 mVpp to 5 Vpp Modulation types AM, FM, PM, FSK, PWM external and internal, double pulse Transition times 2.5 ns to 1000 s (10% to 90%) Output impedance 50Ω / 5Ω selectable Sample rate 14-bit, 2 GSa/s arbitrary waveform

제품 정보
Digital Storage Oscilloscope
Dsox6002A (Kesight Technologies)	장비 등록 번호 NFEC-2021-08-272557
전자 및 전기의 교류 신호를 측정 분석하며, 시간에 따른 전기 신호의 변화를 시각적으로 확인할 수 있는 장비 · 대역폭 : 1GHz ~ 6GHz (2Channel) · Sampling Speed : 20GSa/s half channels	Features · 파형 업데이트 속도 : 45만회/sec · 메모리 Depth : 4Mpts · 6-in-1 계측기로 많은 작업 수행

제품 정보
Compact Spectrometer
CCS175/M (THORLABS)	장비 등록 번호 NFEC-2021-08-272560
시료에 발생하는 Spectrum에 대해서 파장을 검출하는 장비 · 파장 : 500 ~ 1000nm · FWHM 정확도 : <1nm @ 633nm	Features · Dark Current의 Noise 보정 · 움직이는 부품이 없는 장비

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